Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Adaptive self test of defective TSVs

Autor
Rodriguez-Montanes, R.; Arumi, D.; Figueras, J.
Tipus d'activitat
Presentació treball a congrés
Nom de l'edició
XXVII Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
Any de l'edició
2012
Data de presentació
2012-11-30
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants