Loading...
Loading...

Go to the content (press return)

Contribució a la caracterització del microscopi de força atòmica

Author
Barcons, V.
Type of activity
Theses
Defense's date
2013-10-31
Repository
http://hdl.handle.net/2117/95146 Open in new window
URL
http://hdl.handle.net/2117/95146 Open in new window
Abstract
Des de la seva creació, el microscopi de força atòmica (AFM) ha estat àmpliament utilitzat sobretot per la caracterització de superfícies, obtenint imatges topogràfiques amb una resolució espacial de l’ordre o fins i tot inferior al nanòmetre. L’AFM també ha estat utilitzat per manipular matèria a la nanoescala. El fet de no necessitar de materials o superfícies conductores elèctriques, l’ha convertit en un instrument valuós per camps com la química, la geologia i la ciènci...
Group of research
CIRCUIT - Communication Circuits and Systems Research Group
PERC-UPC - Power Electronics Research Centre
SSR-UPC - Smart Sustainable Resources
Citation
Barcons Xixons, V. "Contribució a la caracterització del microscopi de força atòmica". Tesi doctoral, UPC, Departament d'Enginyeria Minera i Recursos Naturals, 2013.

Participants

Attachments