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Reliability in the face of variability in nanometer embedded memories

Author
Ganapathy, S.
Type of activity
Theses
Other related units
Department of Electronic Engineering
Defense's date
2014-04-28
Repository
http://hdl.handle.net/2117/95286 Open in new window
URL
http://hdl.handle.net/2117/95286 Open in new window
Abstract
En esta tesis, se ha investigado el impacto de las variaciones paramétricas en el comportamiento de una estructura de procesador rendimiento crítico - recuerdos incrustados. Como variaciones se manifiestan como una distribución del consumo y el rendimiento, como primer paso , se propone una nueva metodología de modelado que ayuda a evaluar el impacto de las optimizaciones a nivel de circuito en las opciones de diseño a nivel de arquitectura. Después complementamos estas optimizaciones en t...
Group of research
ARCO - Microarchitecture and Compilers
HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems
VIRTUOS - Virtualisation and Operating Systems
Citation
Ganapathy, S. "Reliability in the face of variability in nanometer embedded memories". Tesi doctoral, UPC, Departament d'Arquitectura de Computadors, 2014.

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