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Reliability-Aware Memory Design Using Advanced Reconfiguration Mechanisms

Author
Pouyan, P.
Type of activity
Theses
Other related units
Department of Electronic Engineering
Defense's date
2015-11-16
Repository
http://hdl.handle.net/2117/95998 Open in new window
URL
http://hdl.handle.net/2117/95998 Open in new window
Abstract
Actualmente, el diseño de sistemas de memoria en circuitos integrados busca continuamente que sean más rápidos y complejos, lo cual se ha vuelto de gran necesidad para las unidades de computación modernas. Estos sistemas de memoria están integrados en forma de memoria embebida para una mejor manipulación de los datos y de su almacenamiento. Dicho objetivo ha sido conseguido gracias al agresivo escalado de las dimensiones del transistor, el cual está llegando a las dimensiones nanométrica...
Group of research
HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems
Citation
Pouyan, P. "Reliability-aware memory design using advanced reconfiguration mechanisms". Tesi doctoral, UPC, Departament d'Enginyeria Electrònica, 2015.

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