Loading...
Loading...

Go to the content (press return)

Monitor amb control strategies to reduce the impact of Process Variations in digital circuits

Author
Mauricio, J.
Type of activity
Theses
Other related units
Department of Electronic Engineering
Defense's date
2015-12-14
Repository
http://hdl.handle.net/2117/96042 Open in new window
URL
http://hdl.handle.net/2117/96042 Open in new window
Abstract
A mesura que la tecnologia CMOS escala, les variacions de Procés, Voltatge, Temperatura i Envelliment (PVTA) tenen un impacte creixent en el rendiment i el consum de potència dels dispositius electrònics. Aquesta problemàtica podria arribar a frenar la millora contínua d'aquests dispositius en un futur proper. Hi ha diverses maneres d'afrontar el problema de la variabilitat: relaxar el marge de la freqüència màxima d'operació, implementar dissenys físics de xips més fàcils de litogra...
Group of research
HIPICS - High Performance Integrated Circuits and Systems
Citation
Mauricio Ferré, J. "Monitor amb control strategies to reduce the impact of process variations in digital circuits". Tesi doctoral, UPC, Departament d'Enginyeria Electrònica, 2015.

Participants

Attachments