FUTUR. Portal de la Producció Científica dels Investigadors de la UPC.

Figueras Pamies, Juan

Total activitats: 320

Grup de recerca: CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
Departament: Departament d'Enginyeria Electrònica

Correu electrònic: joan.figuerasupc.edu
Dades de contacte: Directori de la UPC

Completa les teves dades

Producció científica

1 a 50 de 320 resultats

Ordenar per:

SELF-HEALING AND SECURE LOW-POWER MEMORY SYSTEMS
Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
Tesi doctoral
Mixed-Signal Alternate Test and Binning Using Digitally Encoded Signatures
Álvaro Gómez-Pau
Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
Tesi doctoral
Multi-directional space tessellation to improve the decision boundary in indirect mixed-signal testing
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)
p. 1-14
DOI: 10.1007/s10836-017-5648-y
Data de publicació: 2017-02-20
Article en revista
Criteria for selecting a subset of indirect measurements for analog testing
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
p. 1-6
Data de presentació: 2016-11-23
Presentació treball a congrés
Indirect test of M-S circuits using multiple specification band guarding
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Integration. The VLSI journal
Vol. 55, p. 415-424
DOI: 10.1016/j.vlsi.2016.04.007
Data de publicació: 2016-09-01
Article en revista
Efficient production binning using octree tessellation in the alternate measurements space
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Vol. 35, num. 8, p. 1386-1395
DOI: 10.1109/TCAD.2015.2501309
Data de publicació: 2016-08-01
Article en revista
Best PhD Student Paper Award
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Premi o reconeixement
Improving indirect test efficiency using multi-directional tessellations in the measure space
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
International Mixed-Signal Testing Workshop
p. 1-6
DOI: 10.1109/IMS3TW.2016.7524230
Data de presentació: 2016-07
Presentació treball a congrés
Best Paper Award Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS2015)
Álvaro Gómez-Pau; Lupon, E.; Balado, L.; Figueras, J.
Premi o reconeixement
Adaptive test system applied to the generation of mixed-signal signatures
Álvaro Gómez-Pau; Lupon, E.; Balado, L.; Figueras, J.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
p. 7-
Data de presentació: 2015-11-25
Presentació treball a congrés
Mixed-Signal Circuits Testing Using Digitally Coded Indirect Measurements
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
Data de presentació: 2015-11-25
Presentació treball a congrés
Mixed-signal test band guarding using digitally coded indirect measurements
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design
p. 1-4
DOI: 10.1109/SMACD.2015.7301708
Data de presentació: 2015-09-09
Presentació treball a congrés
Diagnosis of parametric defects in dual axis IC accelerometers
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Microsystem technologies
Vol. 21, num. 9, p. 1855-1866
DOI: 10.1007/s00542-014-2218-4
Data de publicació: 2015-09-01
Article en revista
Prebond testing of weak defects in TSVs
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Vol. PP, num. 99, p. 31-36
DOI: 10.1109/TVLSI.2015.2448594
Data de publicació: 2015-08-07
Article en revista
Read/write robustness estimation metrics for spin transfer torque (STT) MRAM cell
Vatajelu, E.; Rodriguez-Montanes, R.; Indaco, M.; Renovell, M.; Paolo Prinetto; Figueras, J.
Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
p. 447-452
Presentació treball a congrés
Analog circuits testing using digitally coded indirect measurements
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
p. 57-62
DOI: 10.1109/DTIS.2015.7127357
Presentació treball a congrés
STT-MRAM cell reliability evaluation under process, voltage and temperature (PVT) variations
Vatajelu, E.; Rodriguez-Montanes, R.; Indaco, M.; Paolo Prinetto; Figueras, J.
International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
p. 1-6
DOI: 10.1109/DTIS.2015.7127377
Presentació treball a congrés
Power-aware voltage tuning for STT-MRAM reliability
Vatajelu, E.; Rodriguez-Montanes, R.; Stefano Di Carlo; Renovell, M.; Paolo Prinetto; Figueras, J.
IEEE European Test Symposium
p. 1-6
DOI: 10.1109/ETS.2015.7138748
Presentació treball a congrés
An efficient behavioral description frontend tool for mixed-mode SPICE simulation
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.; Chatterjee, A.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
p. 1-6
Data de presentació: 2014-11-28
Presentació treball a congrés
Quality metrics for mixed-signal indirect testing
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
p. 1-6
Data de presentació: 2014-11-26
Presentació treball a congrés
Electrical localisation of full open defects in comb-meander-comb structures
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
Electronics Letters
Vol. 50, num. 23, p. 1682-1683
DOI: 10.1049/el.2014.3104
Data de publicació: 2014-11-06
Article en revista
La Promoció 108 compleix 50 anys (1964-2014): història, entorn i records
del Cerro, J.; Cusí, C.; Figueras, J.
Data de publicació: 2014-09-01
Llibre
Pre-bond testing of weak defects in TSVs
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
p. 31-36
DOI: 10.1109/IOLTS.2014.6873668
Data de presentació: 2014-07-07
Presentació treball a congrés
Criteria for indirect measurements in M-S testing
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Workshop on Statistical Test Methods
p. 1-6
Data de presentació: 2014-05-30
Presentació treball a congrés
Post-Bond test of through-silicon vias with open defects
Rodriguez-Montanes, R.; Arumi, D.; Figueras, J.
IEEE European Test Symposium
p. 1-6
DOI: 10.1109/ETS.2014.6847816
Data de presentació: 2014-05-29
Presentació treball a congrés
M-S specification binning based on digitally coded indirect measurements
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
IEEE European Test Symposium
p. 105-110
Data de presentació: 2014-05-28
Presentació treball a congrés
Análisis y técnicas de mejora de la robustez y seguridad de circuitos nanométricos en presencia de ataques, defectos, variabilidad y Aging
Rodriguez-Montanes, R.; Balado, L.; Arumi, D.; Lupon, E.; Figueras, J.; Manich, S.
Projecte R+D+I competitiu
Análisis y técnicas de mejora de la robustez y seguridad de circuitos nanométricos en presencia de ataques, defectos, variabilidad y Aging
Manich, S.; Rodriguez-Montanes, R.; Balado, L.; Rius, J.; Lamaison, R.; Renovell, M.; Lupon, E.; Arumi, D.; Weiner, M.; Álvaro Gómez-Pau; Figueras, J.
Projecte R+D+I competitiu
Candidate Best Paper Award in Design of Circuits and Integrated Systems Conference (DCIS2014)
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Premi o reconeixement
Reliability estimation at block-level granularity of spin-transfer-torque MRAMs
Stefano Di Carlo; Indaco, M.; Paolo Prinetto; Vatajelu, E. I.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
p. 75-80
DOI: 10.1109/DFT.2014.6962093
Data de presentació: 2014
Presentació treball a congrés
SRAM cell stability metric under transient voltage noise
Vatajelu, E. I.; Álvaro Gómez-Pau; Renovell, M.; Figueras, J.
Microelectronics journal
Vol. 45, num. 10, p. 1348-1353
DOI: 10.1016/j.mejo.2013.11.005
Data de publicació: 2013-12-20
Article en revista
Test of dual axis accelerometers based on specifications compliance
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
Data de presentació: 2013-11-28
Presentació treball a congrés
M-S test based on specification validation using octrees in the measure space
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
IEEE European Test Symposium
p. 70-75
DOI: 10.1109/ETS.2013.6569359
Data de presentació: 2013-05-28
Presentació treball a congrés
Nondestructive diagnosis of mechanical misalignments in dual axis accelerometers
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS
Data de presentació: 2013-04-18
Presentació treball a congrés
Diagnosis of interconnect full open defects in the presence of gate leakage currents
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Vol. 32, num. 2, p. 301-312
DOI: 10.1109/TCAD.2012.2228269
Data de publicació: 2013-02
Article en revista
BIST Architecture to Detect Defects in TSVs During Pre-Bond Testing
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
IEEE European Test Symposium
DOI: 10.1109/ETS.2013.6569389
Presentació treball a congrés
SRAM stability metric under transient noise
Álvaro Gómez-Pau; Renovell, M.; Figueras, J.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
Data de presentació: 2012-11-30
Presentació treball a congrés
Adaptive self test of defective TSVs
Rodriguez-Montanes, R.; Arumi, D.; Figueras, J.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
Data de presentació: 2012-11-30
Presentació treball a congrés
Built-In test of MEMS capacitive accelerometers for field failures and aging degradation.
Álvaro Gómez-Pau; Sanahuja, R.; Balado, L.; Figueras, J.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
p. 223-228
Data de presentació: 2012-11-28
Presentació treball a congrés
Circuito de autotest integrado de TSVs
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.
Data de sol·licitud: 2012-10-09
Patent d'invenció
Process variability in sub-16nm bulk CMOS technology
Rubio, A.; Figueras, J.; Vatajelu, E.; Canal, R.
Data: 2012-03-01
Document cientificotècnic
Efficiency evaluation of parametric failure mitigation techniques for reliable SRAM operation
Figueras, J.; Vatajelu, E. I.
Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
p. 1343-1348
Data de presentació: 2012
Presentació treball a congrés
Gate leakage impact on full open defects in interconnect lines
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Vol. 19, num. 12, p. 2209-2220
DOI: 10.1109/TVLSI.2010.2077315
Data de publicació: 2011-12
Article en revista
Diagnosis of Interconnect Full Open Defects in the Presence of Fan-Out
Arumi, D.; Rodriguez-Montanes, R.; Figueras, J.; Eichenberger, S.; Hora, C.; Kruseman, B.
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Vol. 30, num. 12, p. 1911-1922
DOI: 10.1109/TCAD.2011.2165071
Data de publicació: 2011-12
Article en revista
Testing dual axis IC accelerometers using Lissajous compositions
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
p. 1-4
Data de presentació: 2011-11-17
Presentació treball a congrés
8T SRAM Cell with Open Defects under Voltage and Timing Variations
Rodriguez-Montanes, R.; Arumi, D.; Figueras, J.; Castillo, R.
Conference on Design of Circuits and Integrated Systems
p. 155-160
Data de presentació: 2011-11-16
Presentació treball a congrés
ROBUSTNESS ANALYSIS OF NANOMETRIC SRAM MEMORIES
Vatajelu, E.
Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya
Tesi doctoral
Testing IC accelerometers using Lissajous compositions
Álvaro Gómez-Pau; Balado, L.; Figueras, J.
Perspective Technologies and Methods in MEMS Design
p. 75-81
Data de presentació: 2011-05-11
Presentació treball a congrés
Impacto de la variabilidad en las estrategias de test y diagnóstico de circuitos micro/nanoelectrónicos
Figueras, J.; Balado, L.; Sanahuja, R.; Lupon, E.; Rius, J.; Rodriguez-Montanes, R.; Manich, S.; Vatajelu, E.; Arumi, D.
Projecte R+D+I competitiu
Transient noise failures in SRAM cells : dynamic noise margin metric
Álvaro Gómez-Pau; Renovell, M.; Figueras, J.; Vatajelu, E. I.
Asian Test Symposium
p. 413-418
DOI: 10.1109/ATS.2011.64
Data de presentació: 2011
Presentació treball a congrés

Figueras Pamies, Juan

Producció científica

Activitat en accés obert

Activitat premiada

Àmbit

Any convocatòria

Pla

Programa subvenció

Subprograma subvenció

Convocatòria subvenció

Institut