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Filtros ML en sistemas de detección y seguimiento en líneas

Author
Fernandez, J.
Type of activity
Presentation of work at congresses
Name of edition
II Jornadas de Electrónica Militar
Date of publication
1986
Presentation's date
1986-02
Book of congress proceedings
II Jornadas de Electrónica Militar: Madrid: 11, 12, 13 y 14 de febrero de 1986, IFEMA
First page
155
Last page
160
Publisher
Fundación Universidad-Empresa
Repository
http://hdl.handle.net/2117/87649 Open in new window
Abstract
En el presente trabajo se estudia la aplicación del filtrado ML en sistemas de detección Y seguimiento de líneas a través de una familia de estimadores de función de potencia de parámetros q. Con q = 1 se obtiene el filtro MLM (Maximum Likelhood method) que da una buena estimación del nivel de potencia. Valores mayores del parámetro q permiten obtener una resolución creciente, comparable e incluso superior a los métodos autoregresivos, presentando frente a estos últimos otras ventaja...
Citation
Fernandez, J. Filtros ML en sistemas de detección y seguimiento en líneas. A: Jornadas de Electrónica Militar. "II Jornadas de Electrónica Militar: Madrid: 11, 12, 13 y 14 de febrero de 1986, IFEMA". Madrid: Fundación Universidad-Empresa, 1986, p. 155-160.
Group of research
SPCOM - Signal Processing and Communications Group

Participants