Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

MOSFET degradation dependence on input signal power in a RF power amplifier

Autor
Crespo, A.; Barajas, E.; Martin, J.; Mateo, D.; Aragones, X.; Rodríguez, R.; Nafría, M.
Tipus d'activitat
Presentació treball a congrés
Nom de l'edició
20th Conference on “Insulating Films on Semiconductors”
Any de l'edició
2017
Data de presentació
2017-06-29
Llibre d'actes
Microelectronic Engineering, volume 198: Special issue of Insulating Films on Semiconductors (INFOS 2017), June 27th-30th, 2017 in Potsdam, Germany
Pàgina inicial
289
Pàgina final
292
DOI
https://doi.org/10.1016/j.mee.2017.05.021 Obrir en finestra nova
URL
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0167931717302186 Obrir en finestra nova
Grup de recerca
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions

Participants