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Medida de parámetros de ruido de transistores HEMT a partir de medidas de ruido con fuente adapatada

Author
Lazaro, A.; Pradell, L.; O'callaghan, J.; Perez-Pueyo, R.; Soneira, M.J.
Type of activity
Presentation of work at congresses
Name of edition
XIII Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio
Date of publication
1998
Presentation's date
1998-09
Book of congress proceedings
URSI 1998: URSI'98: Unión Científica Internacional de Radio: XIII Simposium Nacional: Pamplona: 16-18 septiembre
First page
505
Last page
506
Repository
http://hdl.handle.net/2117/107025 Open in new window
Citation
Lazaro, A., Pradell, L., O'callaghan, J., Perez-Pueyo, R., Soneira, M.J. Medida de parámetros de ruido de transistores HEMT a partir de medidas de ruido con fuente adapatada. A: Simposium Nacional de la Unión Científica Internacional de Radio. "URSI 1998: URSI'98: Unión Científica Internacional de Radio: XIII Simposium Nacional: Pamplona: 16-18 septiembre". Pamplona: 1998, p. 505-506.
Group of research
CommSensLab-UPC - Centre Específic de Recerca en Comunicació i Detecció UPC
GCO - Optical Communications Group
RF&MW - Laboratory of RF & microwave systems, devices and materials

Participants