Loading...
Loading...

Go to the content (press return)

Enhancement of defect diagnosis based on the analysis of CMOS DUT behaviour

Author
Arumi, D.
Type of activity
Theses
Other related units
Department of Electronic Engineering
Defense's date
2008-07-11
Repository
http://hdl.handle.net/2117/93665 Open in new window
URL
http://hdl.handle.net/2117/93665 Open in new window
Abstract
Les dimensions dels transistors disminueixen per a cada nova tecnologia CMOS. Aquest alt nivell d'integració complica el procés de fabricació dels circuits integrats, apareixent nous mecanismes de fallada. En aquest sentit, els mètodes de diagnosi actuals no són capaços d'assumir els nous reptes que sorgeixen per a les tecnologies nanomètriques. A més, la inspecció física de fallades (Failure Analysis) no es pot aplicar des d'un bon començament, ja que els costos de la seva utilitzaci...
Group of research
QINE - Low Power Design, Test, Verification and Security ICs
Citation
Arumí i Delgado, D. "Enhancement of defect diagnosis based on the analysis of CMOS DUT behaviour". Tesi doctoral, UPC, Departament d'Enginyeria Electrònica, 2008.

Participants

Attachments