Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Academic Network for Microelectronic Test Education

Autor
Balado, L.; Figueras, J.; Novak, F.; Biasizzo, A.; Bertrand, Y.; Flottes, M.; Carlo, D.; Prinetto, P.; Pricopi, N.; Wunderlich, H.; Hayden, V.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
International journal of engineering education
Data de publicació
2007-11
Volum
23
Número
6
Pàgina inicial
1245
Pàgina final
1253
DOI
0949-149X/91
URL
http://www.ijee.dit.ie/latestissues/Vol23-6/s21_jee1829.pdf Obrir en finestra nova
Grup de recerca
CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat

Participants

  • Balado Suarez, Luz Maria  (autor)
  • Figueras Pamies, Juan  (autor)
  • Novak, F  (autor)
  • Biasizzo, A  (autor)
  • Bertrand, Y  (autor)
  • Flottes, M L  (autor)
  • Carlo, Di S  (autor)
  • Prinetto, P  (autor)
  • Pricopi, N  (autor)
  • Wunderlich, Hans Joachim  (autor)
  • Hayden, Van Der J P  (autor)