Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

A detailed analysis of CMOS SRAMs with gate oxide short defects

Autor
Segura, J.; Rubio, A.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
IEEE journal of solid-state circuits
Data de publicació
1997-10
Volum
32
Número
10
Pàgina inicial
1543
Pàgina final
1550
Grup de recerca
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions

Participants