Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Experimental Comparison of Substrate Noise Coupling Using Different Wafer Types

Autor
Aragones, X.; Rubio, A.
Tipus d'activitat
Article en revista
Revista
IEEE journal of solid-state circuits
Data de publicació
1999-10
Volum
34
Número
10
Pàgina inicial
1405
Pàgina final
1409
Grup de recerca
HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions

Participants