Carregant...
Carregant...

Vés al contingut (premeu Retorn)

Investigadors

1 a 7 de 7 resultats
 
  • Arumi Delgado, Daniel

    Total activitats: 60
    Departament d'Enginyeria Electrònica
    QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
    Escola d'Enginyeria d'Igualada (EEI)
  • Balado Suarez, Luz Maria

    Total activitats: 125
    Departament d'Enginyeria Electrònica
    QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
    Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)
  • Figueras Pamies, Juan

    Total activitats: 320
    Departament d'Enginyeria Electrònica
    QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
    CRnE - Centre de Recerca en Ciència i Enginyeria Multiescala de Barcelona
  • Gómez Pau, Álvaro

    Total activitats: 34
    Departament d'Enginyeria Electrònica
    QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
    Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)
  • Lupon Roses, Emilio Jose

    Total activitats: 94
    Departament d'Enginyeria Electrònica
    QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
    Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)
  • Manich Bou, Salvador

    Total activitats: 130
    Departament d'Enginyeria Electrònica
    QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
    Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)
  • Rodríguez Montañés, Rosa

    Total activitats: 131
    Departament d'Enginyeria Electrònica
    QINE - Disseny de Baix Consum, Test, Verificació i Circuits Integrats de Seguretat
    Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Industrial de Barcelona (ETSEIB)